半導(dǎo)體應(yīng)用廣泛，相關(guān)的試驗(yàn)設(shè)備有多種，下面簡(jiǎn)單介紹下常見(jiàn)半導(dǎo)體試驗(yàn)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)如下：

1.溫度循環(huán)（冷熱沖擊試驗(yàn)箱）參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A104

溫度范圍：-65℃~150℃

低溫沖擊：-40℃，-55℃，-65℃

高溫沖擊：65℃，85℃，125℃

溫度沖擊時(shí)間小于3min，1min

溫度保持時(shí)間30min，60min

測(cè)試時(shí)間不能少于1000個(gè)循環(huán)

2.熱壓器/無(wú)偏壓 HAST測(cè)試 參考標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A118

溫度范圍：100℃~143℃

濕度范圍：70%RH~100%RH

壓力范圍：0.5kg~3.5kg

測(cè)試時(shí)間不能少于200小時(shí)，具體根據(jù)用戶實(shí)際要求，有些需要達(dá)到500小時(shí)到1000小時(shí)等不同時(shí)間

3.其他測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.1-2001  試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法，試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法，GJB 150.3-1986 高溫試驗(yàn)， 低溫試驗(yàn)， GB 11158《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》， IEC60068-2-14等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，如需了解更多測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)來(lái)電咨詢。